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粒子圖像測速系統在進行邊界層流場測量時，由于固體的壁面在激光的照射下，往往會產生很強的反光噪聲，而這些反光噪聲的強度遠遠大于示蹤粒子的強度導致相機無法捕捉到示蹤粒子的信號，導致貼近邊壁的流場無法測量，我司技術人員通過使用激光誘導熒光的方法，將合適比重和粒徑的熒光粒子來充當示蹤粒子，借助相關軟件和硬件的配合，在實際的測量中可以有效抑制和過濾壁面反光噪聲，使得粒子圖像測速（PIV）在邊壁測量中變得有效可靠。（該方法同樣在氣液兩相流的粒子圖像測速中適用）
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